鏡頭裂隙燈檢查的常見方法

　　裂隙燈檢查法是應用裂隙燈角膜顯微鏡以投射光線的不同角度和寬窄，焦點或彌散方法經角膜顯微鏡觀察晶狀體的光學特性，從而對晶狀體的位置，病變情況作出判斷。一般檢查越是近軸位的部位投射角度越小如15-30度，周邊部則可達45-60度。
　　晶狀體裂隙燈檢查常用方法
　　1、彌散照明法：將裂隙燈的光源開大呈瀰漫光斑投向角膜晶狀體，通過透明的角膜可以看到晶狀體的全貌。檢查晶狀體有無移位，有無明確的斑點狀或楔形混濁，晶狀體表面是否光潔一致等。但不能明確晶狀體各層較細微的改變。
　　2、直接焦點照明法：將投射光線的焦點和角膜顯微鏡的焦點調至完全一至，這是檢查晶狀體的重要方法，其中可分寬光帶照射和窄光帶照射。
　　（1）寬光帶照射：將照射光線呈較寬的光帶（如1-2mm），主要用來觀察晶狀體周邊前表面與瞳孔位置的關係。其間隙是否有不同，相應的晶狀體前面的虹膜有無顫動。觀察晶狀體表面及前皮質的光學特性。
　　（2）窄光帶照射：將光帶調的很窄（如0.4mm），此時晶狀體各層的光反射帶上的細小改變就可以反映出來，病變定位較寬光帶明確。因為晶狀體厚4-5mm，所以檢查時必須焦點從晶狀體前囊開始順序向後至後囊逐層觀察。並且從顳側至鼻側連續觀察各光學切面才能對檢查的晶狀體有一個全面的印象。在實際檢查中往往寬窄光帶結合可以得到一個明確的晶狀體病變位置、形態甚至性質。
　　3、間接焦點斜照法：將焦點照射光線放在需要觀察部位的側方，利用其間接光反射可以看到並非完混濁但折光有改變的病變，如水隙、空泡及輕微的混濁。
　　4、後映光照射法：將照射光線通過被觀察部位的後方，通過其後的反射光線來觀察較細微的直接焦點照射法不易發現的改變，如晶狀體後囊下的混濁、後發障、前囊膜色素、微小混濁等。
　　5、鏡面反光照射法:將晶狀體囊膜作為鏡面反光區，當照射光投射角等於反射角時可看到晶狀體囊的鏡面反光。晶狀體囊膜組織不均勻則鏡面反光出現相應的反射與折射。如正常晶狀體的前囊可看到鯊魚皮樣反光。